簡介
LBIC
- 鐳射選擇
- 標準：445 nm 波長，10mW 功率
- 405 nm、532 nm等
- 鐳射檢查光束圓度
- 樣品架：
- 用途廣泛，適用於各種樣品佈局
- 用於自動觸點切換的多路轉接器選項
- 用於低信號測量的電流放大器
- 易於使用且具有數據導出功能的控制軟體
- 鐳射選擇
- 標準：445 nm 波長，10mW 功率
- 405 nm、532 nm等
- 鐳射檢查光束圓度
- 樣品架：
- 用途廣泛，適用於各種樣品佈局
- 用於自動觸點切換的多路轉接器選項
- 用於低信號測量的電流放大器
- 易於使用且具有數據導出功能的控制軟體
應用和功能
- 具有最高分辨率且快速、可靠的光電流映射
- 缺陷檢測和視覺化——分流、塗層缺陷、定位非活動區域
- 研究降解效應
- 質量控制工具
- 鐳射束掃描樣品並測量激發的光電流
- 提供不同（多種）鐳射波長
- 高達 300×300 mm² 的掃描區域
- 各種太陽能技術的映射：鈣鈦礦、有機、矽、CIGS、CdTe
- Laser choices
- Standard: 445 nm wavelength, 10mW power
- 405 nm, 532 nm, and many more
- Laser checked for beam circularity
- Sample holder:
- Versatile and adaptable to a large range of sample layouts
- Multiplexer option for automatic contact switching
- Current amplifier for low signal measurements
- Easy to use control software with data export
Applications and functions
- Fast and reliable photocurrent mapping with highest resolution
- Defect detection and visualization – shunts, coating defects, localize inactive regions
- Study degradation effects
- Quality control tool
- A laser beam scans the sample and the excited photocurrent is measured
- Different (multiple) laser wavelengths available
- Up to 300×300 mm² scanning area
- Mapping of all kinds of solar technologies: Perovskite, Organic, Silicon, CIGS, CdTe,