用於 XRF/EDS 的 FastSDD X 射線探測器
Patented C-Series Low Energy X-Ray Windows
【AMPTEK】矽漂移偵測器/X-ray,Gamma-ray偵測器 用於 XRF/EDS 的 FastSDD X 射線探測器
簡介
“C-Series” X-ray windows
Amptek 專利「C 系列」X 射線視窗通過採用氮化矽（Si3N4）和鋁塗層，將矽漂移探測器（SDD）的低能量響應擴展到了硼（B）; 它們只被用在我們的FastSDD®上。
Amptek 在推出第一款熱電致冷探測器的同時也推出了一種液氮的替代物。 現在，通過專利“C 系列”， Amptek為常規 XRF 分析提供了一種替代鈹（Be）視窗的產品，與軟 X 射線分析的聚合物視窗相比，它具有更高的性能。
Amptek 專利「C 系列」X 射線視窗通過採用氮化矽（Si3N4）和鋁塗層，將矽漂移探測器（SDD）的低能量響應擴展到了硼（B）; 它們只被用在我們的FastSDD®上。
Amptek 在推出第一款熱電致冷探測器的同時也推出了一種液氮的替代物。 現在，通過專利“C 系列”， Amptek為常規 XRF 分析提供了一種替代鈹（Be）視窗的產品，與軟 X 射線分析的聚合物視窗相比，它具有更高的性能。
應用
- C1 視窗：實驗室、桌上型和掌上型儀器。 此視窗不透光，因此可以在普通的室內光線下使用。
- C2 視窗：真空應用和掃描電子顯微鏡（SEM）中的 EDS（EDX）。 C2 視窗在最低能量下效率更高，但是會透光，因此必須在黑暗環境中使用。
Amptek 低能量專利“C 系列”X 射線視窗
NICER X 射線定時儀器上的 Amptek FAST SDD®，其中 C2 視窗在安裝遮光罩之前安裝在焦平面上。
鳴謝： NASA/Keith Gendreau
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C1 |
C2 |
|---|---|---|
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厚度（Si3N4） |
150 nm |
40 nm |
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鋁塗層（接地） |
250 nm |
30 nm |
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視窗直徑 |
6.3 mm |
5 mm |
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窗口面積 |
30 mm² |
20 mm² |
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網格類型 |
六角形矽，15 μm 厚 |
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開口面積網格 |
80% |
80% |
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氦氣洩漏率 |
<1 x 10-10 mbar l/s |
切勿將 C2 視窗放到 He 氣體中！ |
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工作溫度 |
-55°C 至 +150°C（0 bar壓差） |
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-40°C 至 +85°C（1 bar前方壓差） |
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C1 和 C2 視窗壓力測試： |
1.6 bar前方壓差，時長 10 秒 |
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10 個 1 秒週期，1.6 bar前方差壓 |
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Amptek Patented “C-Series” X-ray windows utilize silicon nitride (Si3N4) with an aluminum coating to extend the low energy response of our silicon drift detectors (SDDs) down to boron (B); they are available exclusively with our FastSDD®.
Amptek provided an alternative to liquid nitrogen when it introduced the first thermoelectrically cooled detector. Now with the Patented “C-Series,” we offer an alternative to the Beryllium (Be) window for general XRF analysis, and superior performance as compared to polymer windows for soft X-ray analysis.
Applications
- C1 Windows: Laboratory, benchtop and handheld instruments. This window is light-tight so it can be used in normal ambient room light.
- C2 Windows: Vacuum applications and EDS (EDX) in scanning electron microscopes (SEMs). The C2 window has much better efficiency at the lowest energies but is not light-tight and therefore must be used in dark environments.
Amptek low energy Patented “C-Series” X-ray windows
A view of the NICER X-ray Timing Instrument showing Amptek FAST SDDs® with C2 windows mounted the focal plane, before light shield assembly.
Credits: NASA/Keith Gendreau
| C1 | C2 | |
|---|---|---|
| Thickness (Si3N4) | 150 nm | 40 nm |
| Aluminum Coating (Grounded) | 250 nm | 30 nm |
| Window Diameter | 6.3 mm | 5 mm |
| Window Area | 30 mm² | 20 mm² |
| Grid Type | Hexagonal Si, 15 µm thick | |
| Open Area Grid | 80% | 80% |
| Helium Leak Rate | <1 x 10-10 mbar l/s | Do not put the C2 window into He purge ! |
| Operating Temperature | -55°C to +150°C (0 bar pressure differential) | |
| -40°C to +85°C (1 bar front pressure differential) | ||
| Pressure Testing for C1 and C2 Windows: | 1.6 bar front pressure differential for 10 seconds | |
| 10 cycles of 1 second duration with 1.6 bar front differential pressure | ||