描述 掃描式凱爾文探針不僅可以測量樣品的單點接觸電勢差 (CPD),還可以掃描整個樣品表面。配備光源的凱爾文探針可檢測樣品中電子的表面狀態。電子的表面狀態在電荷轉移中扮演重要的角色,這對於光電材料和光電化學來說尤其重要。掃描樣品表面並檢查其電性的可能性可精確評估材料的品質、均勻性等。針對樣品的許多點所收集的一系列 CPD 值,可用來更精確地評估功函數(Work Function) 靜電電壓計
測量技術、應用的分析方法以及儀器的設計,使該儀器在測試帶電介質表面(包括積聚電荷上方的測量電勢可能大至數千伏的介質)方面獨一無二、無與倫比!
掃描式凱爾文探針系統可進行以下研究:
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凱爾文探針模組
凱爾文探針組包含 :
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凱爾文探針儀器配備:
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探針尖 凱爾文探針系統最重要的部分是探針尖。參考電極由直徑 2.5 mm 的金網格製成。 探針尖是完全由 Instytut Fotonowy Sp. z o.o. 設計和製造的元件。 |
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樣品支架
標準凱爾文探針組包含兩種樣品支架:
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樣品支架 標準凱爾文探針組包含兩種樣品支架: |
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底部接觸支架,適用於導電基板上的樣品 | 用於非導電基板的頂部接觸支架 |
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法拉第籠 |
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氣密型法拉第籠與惰性氣體流動系統
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雷射屏障 凱爾文探針系統配備了雷射屏障系統。系統會自動偵測樣品基板。每次探針接近被檢測的樣品時,都會以 20 µm 的精度測量樣品表面與探針尖之間的精確距離。 |
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樣品照明 在測量過程中,樣品可能會被位於探針尖上方的光纖照亮。探針頭會讓光線穿過。光纖輸入端的光源可由 LED 迴轉燈、結合單色光的氙燈或任何其它類型的光源提供。 |
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Description Electrostatic Voltmeter Scanning Kelvin Probe system enables to investigate:
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kelvin probe modules
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The Kelvin Probe instrument is equipped with:
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Probe Tip The Probe Tip is the component fully designed and manufactured by Instytut Fotonowy Sp. z o.o. |
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Sample holders
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樣品支架 標準凱爾文探針組包含兩種樣品支架: |
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底部接觸支架,適用於導電基板上的樣品 | 用於非導電基板的頂部接觸支架 |
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Faraday Cage |
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Gas-tight Faraday Cage with inert gas flow system
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Laser barrier The Kelvin Probe is equipped with the Laser barrier system. System automatically detects the sample sub- strate. Each time the probe approaches the sample being examined, an accurate distance between the sample surface and the Probe Tip is measured with 20 µm precision. |
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Sample illumination |
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General:
Faraday Cage:
Measurement unit:
Probe Tip:
XY Table: