半導體特性分析儀器
Semiconductors
【Instytut Fotonowy】光電光譜儀
Impedance Camera
看阻抗隨時間的變化。 一種測量並記錄阻抗譜的時間演化過程的儀器。
Complete Kelvin Probe
消除測量的 Contact Potential Difference (CPD)歧義。 專用於分別測量樣品和探針尖的接觸電位差。
Quantum Efficiency Measurement Station
量子效率測量系統是一套完整的太陽能電池光譜反應研究實驗裝置。樣品由單色儀產生的單色光束照射，入口處有兩種光源：氙燈和鹵素燈。
Scanning Kelvin Probe
研究樣品的表面狀態 專用於量測接觸電位差和樣品表面的電荷分佈
